网站首页产品展示美国鲁道夫纳米粒度分析仪 > NANOTRAC WAVE II纳米粒度及zeta电位仪
纳米粒度及zeta电位仪

纳米粒度及zeta电位仪

产品型号: NANOTRAC WAVE II

所属分类:纳米粒度分析仪

产品时间:2023-10-28

简要描述:纳米粒度及zeta电位仪
NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y"型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,*消除由于空间位阻

详细说明:

令保护,电子签名和授权等。

 纳米粒度及zeta电位仪
NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,*消除由于空间位阻

外部环境:

电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

环境要求:温度,10-35°C

国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

 

主要特点:

• 采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位, 避免样品交叉污染与浓度

• 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。

• 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。



留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7