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低阻抗率計  (手提式)

低阻抗率計 (手提式)

产品型号: MCP-T370

所属分类:阻抗率計

产品时间:2023-10-27

简要描述:低阻抗率計 (手提式)
Loresta-AX
特色: 维持安定之高质量,依据世界*之四探针理论之高精度之阻抗率计
操作简单,现场使用携带型方便,用于生产技术、质量管理
测定范围: 10-2~106Ω

详细说明:

MCP-T370  低阻抗率計 MCP-T370型 (手提式)

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商品名称:  低阻抗率计 MCP-T370型 (手提式)
Loresta-AX 
特色:  维持安定之高质量,依据世界*之四探针理论之高精度之阻抗率计
操作简单,现场使用携带型方便,用于生产技术、质量管理 
测定范围:  10-2~106Ω 
资料输出:  USB Memory 
体积:  约 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g 
标准配备 
  ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》
利用价值广泛标准探头JIS K7194对应,
Pin间 5mm,Pin尖 0.37R×4支,压力 210g/支,
尺寸 35W×20L×35Hmm 
  MCP-TA06 充电器 
选购品 
  ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》
不均一样品用
Pin间 5mm,Pin尖 Ø 2×4支,压力 240g/支,
尺寸 35W×20L×35Hmm 
  PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》
小样品或薄膜用
Pin间 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,压力 70g/支,
尺寸 Ø 10-20× L112mm 
  QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》
微小样品用
Pin间 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,压力 70g/支,
尺寸 Ø 10-20× L112mm 
  NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer用
Pin间 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,压力 250g/支 
  BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》
大样品用
Pin间 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,压力 210g/支 
  TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》
Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用
Pin间 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,压力 50g/支 
  AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》
标准样式
Pin间 10mm,Pin尖 Ø 2×2支,压力 240g/支 
  BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》
大样品用
Pin尖 Ø 2×2支,压力 240g/支 
  MCP-TRF1探头检验片
ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之) 
  MCP-TRPS 探头检验片
PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之) 
  MCP-TRTF 探头检验片



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