网站首页 ＞ 产品展示 ＞ 美国鲁道夫 ＞ 分析仪 ＞ Stabino II颗粒电位滴定及粒度分析仪
产品目录
颗粒电位滴定及粒度分析仪

颗粒电位滴定及粒度分析仪

产品型号： Stabino II

所属分类：分析仪

产品时间：2023-10-28

简要描述：颗粒电位滴定及粒度分析仪
通过使用stabino，可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。
分散体中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必
的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。

联系我们 在线咨询
详细说明：

颗粒电位滴定及粒度分析仪

通过使用stabino II，可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。

根据不同的测量原理，有电泳法，电声法zeta电位，以及stabino测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数，来源于作用在颗粒界面双电层上离子云的剪切力，如图1。所有这些被测变量都与位于剪切面的颗粒界面电位（PIP）即zeta电位成正比关系。为了建立界面电位，要么通过电泳法或电声法建立的电场，要么通过机械应力作用于流动电位和电声法仪器。通过这样做，来源于溶液中的外部松散附着的离子被带走，显露出可被直接测量的界面电位。



留言框

  • 产品：

  • 您的单位：

  • 您的姓名：

  • 联系电话：

  • 常用邮箱：

  • 省份：

  • 详细地址：

  • 补充说明：

  • 验证码：

    请输入计算结果（填写阿拉伯数字），如：三加四=7

上一篇：折光仪 J357

下一篇：纳米粒度分析仪-180°（DLS）