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纳米粒度分析仪

纳米粒度分析仪

产品型号: NANOTRAC FLEX

所属分类:纳米粒度分析仪

产品时间:2021-06-02

简要描述:NANOTRAC FLEX 纳米粒度分析仪采用全新的动态光散射技术(DLS),引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念,快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布,外置固定式光学探头满足任何应用需求。

详细说明:

纳米粒度分析仪
NANOTRAC FLEX 纳米粒度分析仪采用全新的动态光散射技术(DLS),引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念,快速准确地得到被测体系的纳米粒度分布,外置固定式光学探头满足任何应用需求。

eParticle Analyzer)研发成功,引入由于颗粒在悬浮体系中的布朗运动而产生频率变化的能谱概念,快速准确地得到被测体系的纳米粒度分样品,面积及光强分

 

 

 

 

外部环境:

电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

环境要求:温度,10-35°C

国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

 

主要特点:

• 采用先进的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。

• 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。



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