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纳米颗粒跟踪分析仪

纳米颗粒跟踪分析仪

产品型号: ZetaView

所属分类:分析仪

产品时间:2021-06-02

简要描述:纳米颗粒跟踪分析仪
Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。

详细说明:

纳米颗粒跟踪分析仪
Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术,结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能,让用户眼见为实,更加直观人性化。通过子体积的扫描,来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此
外,颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。检测限是0.5nm,对于纳米颗粒跟踪分析,其检测限是10nm。通常,DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS,当样品浓度太低时,zetaview可以非常圆满的完成检测任务。相反,对于高浓度的样品,DLS方法会非常的适合。

 

测量范围

测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品,颗粒跟踪技术的检测下限为10nm;相应的,如果样品的散射能力较弱,则检测下限会变得更大。假如样品稳定,不会沉淀或漂浮,zeta电位测量的粒径上限为50微米,对于粒径测量为3微米。

 

源于视频分析的颗粒计数

颗粒浓度可通过视频分析得到,并归一化处理,散射体积对粒径。可检测的最小浓度为105粒子/cm3,最大为1010粒子/cm3。对于200nm的颗粒,最大体积浓度为1000ppm。

方法

Zetaview激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。



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